开循环低温探针台 (LPS-50)

产品概要：

低温探针台可以对器件进行非破坏性的测试，器件的最大尺寸可达到102mm(4inch)。一般来讲， 纳米电子材料、量子线、量子点和半导体材料是在低温探针台在进行测量的比较典型的材料。系统的探针、测试电缆、样品架都有多种类型可供选择，从而满足不同用户的需要。

基本信息：

1、系统可使用液氮或液氦制冷，基本系统温度 范围：4.2/77 K to 500 K

2、高温选件，温度范围可到 20K-700K

3、￠5mm(0.2 in)光学样品架，可以从背面照射样品

4、样品台旋转选件，旋转角度±180 度，角度分辨率

5、0.1 度，可选手动或电动旋转

6、测量 DC 到 67GHz

7、最大测试样品尺寸 51mm 直径

8、最多可使用 6 个探针臂

9、探针臂上安装温度感器进行温度监测

10、控温稳定性： ±50mK

11、探针臂 3 轴方向可调节，并可进行面内±5°旋转

技术优势：

1、电缆、屏蔽和 Guard 保护进一步减少了电噪声和热辐射损失

2、支持未来升级闭循环，可将温度范围扩展到 4k

3、控温稳定性大大增强

4、实时进行温度检测

应用方向：

它为材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、 high Z 测量、DC 测量、RF 测量和微波特性测量提供一个测试平台。

开循环低温探针台 (LPS-50)

配置：

1. 样品台：2寸

2. 支持6套DC探针

3. 温度范围：80k-500k

4. 支持低于100fA的漏电测试

开循环低温探针台 (LPS-50)

开循环低温探针台 (LPS-50)

开循环低温探针台 (LPS-50)